Объектив Pentax SMC DA* 55mm f/1.4 SDM (21790)

код товара: U0021601
Оставить отзыв
+212

Указанная сумма будет начислена в виде бонусов на Ваш бонусный счет. Не забудьте правильно указать свой номер телефона при оформлении заказа.

Если Вы еще не участник программы лояльности Brain UP, Вы можете это изменить всего за 30 секунд, и пользоваться всеми преимуществами.

Детали программы лояльности Brain UP

  • Объектив Pentax SMC DA* 55mm f/1.4 SDM (21790)
Доставка Ваш город: Киев

Оплата

Наличными, Наложенный платеж, Безналичный, Visa/MasterCard, WebMoney, Liqpay

Гарантия

Обмен/возврат товара надлежащего качества в течение 14 дней. Гарантия от производителя - 24 мес.

Характеристики

  • Производитель Pentax
  • Модель SMC DA* 55mm f/1.4 SDM
  • Артикул 21790
  • Изменение фокусного расстояния Фикс-объективы
  • Тип Стандартные
  • Тип байонета Pentax K
  • Конструкция (элементы/группы) 9/8
  • Количество лепестков диафрагмы 9
  • Наименьшее фокусное расстояние 55 мм
  • Наибольшее фокусное расстояние 55 мм
  • Максимальная диафрагма f/1.4
  • Минимальная диафрагма f/22
  • Граница фокусировки 45 см
  • Угол обзора 28.6 град. по горизонтали
  • Привод автофокусировки ультразвуковой SDM-мотор
  • Диаметр фильтра 58 мм
  • Габариты (диаметр х длина) 70.5 x 66 мм
  • Вес 475 г
  • Страна производства Китай
  • Гарантия, мес 24
Все характеристики

Описание

Объектив Pentax SMC DA 55mm f/ 1.4 SDM (21790) - высококачественный объектив с фокусным расстоянием, близким к "штатному", из профессиональной линейки легендарной "звездной" оптики PENTAX. В схеме этого объектива, состоящей из 9 линз в 8 группах, традиционно используются особые сорта стекла.

В DA* 55mm f:1.4 применена инновационная технология - не имеющее аналогов просветляющее покрытие поверхностей линз Pentax Aero Bright Coating (ABC). Созданное на основе материалов silica aero gel, ABC-покрытие обеспечивает точное светопропускание без потерь лучей всего видимого спектра, что помимо предотвращения бликов обеспечивает отличную цветопередачу и отсутствие хроматических искажений в формируемом изображении.
Читать полное описание